SN74BCT8373ADWRG4
| ： | SN74BCT8373ADWRG4 |
|---|---|
| ： | 专业逻辑 |
| ： | Texas Instruments |
| ： | IC SCAN TEST DE |
| ： | - |
| ： | 卷带式 (TR) |
| ： | 1 |
| 类型 | 描述 |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 系列 | 74BCT |
| 包裹 | 卷带式 (TR) |
| 产品状态 | OBSOLETE |
| 包装/箱 | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| 安装类型 | Surface Mount |
| 位数 | 8 |
| 逻辑类型 | Scan Test Device with D-Type Latches |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 电源电压 | 4.5V ~ 5.5V |
| 供应商设备包 | 24-SOIC |
