DS2174QN

ENHANCED BIT ERROR RATE TESTER

制造商: Analog Devices Inc./Maxim Integrated 产品分类: 电信 数量: 728 RoHS 状态: 支持

基础信息

零件编号:
DS2174QN
封装:
-
包装:
Bulk
描述:
ENHANCED BIT ERROR RATE TESTER

产品参数

工作温度 -40°C ~ 85°C
零件状态 Active
安装类型 Surface Mount
电路数量 1
接口 Parallel
封装 / 外壳 44-LCC (J-Lead)
供应商器件封装 44-PLCC (16.59x16.59)
电流 - 供电 60mA
电压 - 供电 3V ~ 3.6V
功能 Enhanced Bit Error Rate Tester (EBERT)